| | | | (時間単価) |
| 装置名 | 機器使用料金
(依頼測定) | 機器使用料金
(共同研究測定) | 備考 |
| | 円(税抜) | 円(税抜) |
|
| 電界放出形電子線マイクロアナライザ FE-EPMAJEOL JXA-iHP200F | 6,000 | 10,000 | SXESは別途相談 |
| 10,000 | 14,000 |
| グロー放電発光分析装置 GD-OESHoriba GD-Profiler2 | 5,000 | 9,000 | |
| 8,000 | 12,000 |
| 全自動光電子分光装置 XPS/UPSThermo Fisher Scientific Nexsa | 6,000 | 10,000 | XPSのみ、その他のオプション利用は別途相談 |
| 10,000 | 14,000 |
| X線光電子分光装置 XPSJEOL JPS-9010TR | 3,400 | 7,400 | |
| 4,800 | 8,800 |
| オージェ電子分光装置 AESJEOL JAMP-9500F | 5,000 | 9,000 | |
| 8,000 | 12,000 |
| フーリエ変換赤外分光装置 FT-IRShimadzu IRTracer-100 | 3,800 | 7,800 | |
| 5,600 | 9,600 |
| フーリエ変換赤外分光装置 FT-IRJASCO FT/IR-4100 | 2,800 | 6,800 | |
| 3,600 | 7,600 |
| レーザーラマン分光装置 LRSJASCO NRS-7200 | 3,400 | 7,400 | |
| 4,800 | 8,800 |
| 冷却加熱レーザーラマン分光光度計 LRSTokyo Instruments NanofinderFlex | 3,400 | 7,400 | 低温測定時液体窒素代（実費）が追加 |
| 4,800 | 8,800 |
| 紫外可視近赤外分光光度計 UV-Visible/NIRJASSO V-770 | 2,800 | 6,800 | |
| 3,600 | 7,600 |
| 分光蛍光光度計 FLJASCO FP-8550 | 2,800 | 6,800 | |
| 3,600 | 7,600 |
| 電子スピン共鳴分光装置 ESRJEOL JES-RE2X | 2,400 | 6,400 | |
| 2,800 | 6,800 |
| In-plane型X線回折装置 In-plane XRDRigaku SmartLab 9kW | 3,600 | 7,600 | |
| 5,200 | 9,200 |
| 低温X線回折装置 Low temperature XRDRigaku SmartLab 9kW | 3,600 | 7,600 | 低温測定時液体窒素代（実費）が追加 |
| 5,200 | 9,200 |
| 粉末X線回折装置 Powder XRDRigaku SmartLab 3kW | 3,400 | 7,400 | |
| 4,800 | 8,800 |
蛍光X線分析装置 XRF
Rigaku ZSX Primus III+ | 3,400 | 7,400 | |
| 4,800 | 8,800 |
蛍光X線分析装置 XRF
Rigaku ZSX Primus II | 3,400 | 7,400 | |
| 4,800 | 8,800 |
| ICP発光分光分析装置 ICP-OESShimadzu ICPE-9820 | 5,000 | 9,000 | |
| 8,000 | 12,000 |
| 原子吸光分光光度計 AASShimadzu AA-7000 | 3,200 | 7,200 | |
| 4,400 | 8,400 |
| 熱分解ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計 GC-TOF-MSJEOL JMS-T200GCx-plus | 8,000 | 12,000 | 熱分解ユニット利用時試料カップ代（実費）が追加 |
| 14,000 | 18,000 |
| 電界放出形透過電子顕微鏡 FE-TEMJEOL JEM-2100F | 6,000 | 10,000 | |
| 10,000 | 14,000 |
| 透過電子顕微鏡 TEMHitachi HT7700 | 6,000 | 10,000 | |
| 10,000 | 14,000 |
| 冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 Cold FE-SEMHitachi SU8230 | 6,000 | 10,000 | |
| 10,000 | 14,000 |
| 冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 Cold FE-SEMHitachi SU8000 | 4,000 | 8,000 | |
| 6,000 | 10,000 |
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 Schottky FE-SEM
JEOL JSM-IT800 (SHL) | 6,000 | 10,000 | SXES利用は別途相談 |
| 10,000 | 14,000 |
| 走査電子顕微鏡 SEMHitachi FlexSEM1000 II | 3,600 | 7,600 | |
| 5,200 | 9,200 |
| cryo走査電子顕微鏡 cryoSEMJEOL JSM-IT200 | 3,600 | 7,600 | cryo stage利用は別途相談 |
| 5,200 | 9,200 |
| 卓上走査電子顕微鏡 DesktopSEMHitachi TM3030Plus | 3,000 | 7,000 | |
| 4,000 | 8,000 |
| 卓上走査電子顕微鏡 BenchtopSEMJEOL JCM-6000Plus | 3,200 | 7,200 | |
| 4,400 | 8,400 |
| X線マイクロCTスキャン X-ray CTBruker SkyScan1172 | 6,000 | 10,000 | |
| 10,000 | 14,000 |
| ナノ3D光干渉計測システム CSIHitachi VS1800 | 3,000 | 7,000 | |
| 4,000 | 8,000 |
| 走査プロープ顕微鏡 SPMHitachi E-sweep | 2,800 | 6,800 | |
| 3,600 | 7,600 |
| 複合ビーム加工観察装置 FIB/FE-SEMJEOL JIB-4700F | 7,000 | 11,000 | |
| 12,000 | 16,000 |
| 集束イオンビーム加工装置 FIBHitach FB2200 | 7,000 | 11,000 | |
| 12,000 | 16,000 |
| イオンミリング Ion Milling MachineHitachi IM4000Plus | 3,000 | 7,000 | |
| 4,000 | 8,000 |
| SEM用イオンミリング装置 SEM MillFischione Instruments Model1061 | 3,000 | 7,000 | |
| 4,000 | 8,000 |
| ウルトラミクロトーム UltramicrotomeLeica EM UC7 | 3,600 | 7,600 | |
| 5,200 | 9,200 |
| レーザー回析式粒度分布計 LDMalvern Panalytical Mastersizer3000 | 2,800 | 6,800 | |
| 3,600 | 7,600 |
| 粒度分布/ゼータ電位計 DLSMalvern Panalytical Zetasizer Pro | 2,800 | 6,800 | |
| 3,600 | 7,600 |
| 比表面積・細孔分布測定装置 BET/BJHShimadzu TriStar3000 | 2,600 | 6,600 | |
| 3,200 | 7,200 |
| 熱重量/示差熱測定装置 TG/DTARigaku TG-DTA8122 | 2,800 | 6,800 | |
| 3,600 | 7,600 |
| 示差走査熱量計 DSCRigaku DSCvesta2 | 2,800 | 6,800 | |
| 3,600 | 7,600 |
| イオン化エネルギー測定装置IEBunkoukeiki BIP-KV100J | 3,600 | 7,600 | |
| 5,200 | 9,200 |