(平成16年4月1日規程第36号)
改正
平成17年9月30日規程第12号
平成20年2月27日規程第18号
平成27年3月26日規程第11号
平成29年3月31日規程第13号
令和2年12月28日規程第7号
令和4年1月12日規程第10号
令和5年1月24日規程第14号
(趣旨)
(受託試験等)
(受託料金)
(受託試験等の依頼)
(承認要件及び承認)
(承認等の通知)
(受託料金の納付)
(受託試験等の結果通知)
(試験試料の措置)
(諸費用の負担)
(試料の損害責任)
(雑則)
別表第1(第2条、第3条関係)
 受託試験等試験等単位受託料金
  
細骨材比重試験1試料15,500
細骨材吸水量試験1試料15,500
金属材料引張試験1試料(1本)4,900
コンクリート圧縮試験1試料(1本)2,200
骨材単位容積質量試験1試料12,500
紙・金属・樹脂等の複合板材に関する曲げ成形試験1試験54,200
紙・金属・樹脂等の複合板材に関する面外圧試験1試験85,400
紙・金属・樹脂等の複合板材に関する面外引剥試験1試験48,100
紙・金属・樹脂等の複合板材に関する断裁・押抜試験1試験55,500
紙・金属・樹脂等の複合板材に関する面内引張試験1試験57,700
備考 
別表第2(第2条、第3条関係)
   (時間単価)
 装置名機器使用料金
(依頼測定)
機器使用料金
(共同研究測定)
備考
電界放出形電子線マイクロアナライザ FE-EPMA
JEOL JXA-iHP200F
円(税抜)
6,000
円(税抜) 
10,000
 
10,00014,000
電子線マイクロアナライザ EPMA
Shimadzu EPMA-1600
3,4007,400 
4,8008,800
グロー放電発光分析装置 GD-OES
Horiba GD-Profiler2
3,8007,800 
5,6009,600
全自動光電子分光装置 XPS/UPS
Thermo Fisher Scientific Nexsa
6,00010,000XPSのみ、その他のオプション利用は別途相談
10,00014,000
X線光電子分光装置 XPS
JEOL JPS-9010TR
3,4007,400 
4,8008,800
オージェ電子分光装置 AES
JEOL JAMP-9500F
5,0009,000 
8,00012,000
フーリエ変換赤外分光装置 FT-IR
JASCO FT/IR-4100
2,8006,800 
3,6007,600
レーザーラマン分光装置 LRS
JASCO NRS-7200
3,4007,400 
4,8008,800
電子スピン共鳴分光装置 ESR
JEOL JES-RE2X
2,4006,400 
2,8006,800
粉末X線回折装置 Powder XRD
Rigaku SmartLab 3kW
3,4007,400 
4,8008,800
In-plane型X線回折装置 In-plane XRD
Rigaku SmartLab 9kW
3,6007,600 
5,2009,200
低温X線回折装置 Low temperature XRD
Rigaku SmartLab 9kW
3,6007,600低温測定時は別途液体窒素代
5,2009,200
蛍光X線分析装置 XRF
Rigaku ZSX Primus II
3,4007,400 
4,8008,800
透過電子顕微鏡 TEM
Hitachi HT7700
6,00010,000 
10,00014,000
電界放出形透過電子顕微鏡 FE-TEM
JEOL JEM-2100F
6,00010,000 
10,00014,000
冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 Cold FE-SEM
Hitachi SU8230
6,00010,000 
10,00014,000
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 Schottky FE-SEM
JEOL JSM-IT800 (SHL)
6,00010,000 
10,00014,000
走査電子顕微鏡 SEM
Hitachi FlexSEM1000 II
3,6007,600 
5,2009,200
cryo走査電子顕微鏡 cryoSEM
JEOL JSM-IT200
3,6007,600 
5,2009,200
卓上走査電子顕微鏡 DesktopSEM
Hitachi TM3030Plus
3,0007,000cool stage利用時は別途相談
4,0008,000
卓上走査電子顕微鏡 BenchtopSEM
JEOL JCM-6000Plus
3,2007,200 
4,4008,400
複合ビーム加工観察装置 FIB/FE-SEM
JEOL JIB-4700F
7,00011,000 
12,00016,000
集束イオンビーム加工装置 FIB
Hitach FB2200
7,00011,000 
12,00016,000
イオンミリング Ion Milling Machine
Hitachi IM4000Plus
3,0007,000 
4,0008,000
ウルトラミクロトーム Ultramicrotome
Leica EM UC7
3,6007,600 
5,2009,200
SEM用イオンミリング装置 SEM Mill
Fischione Instruments Model1061
3,0007,000 
4,0008,000
ICP発光分光分析装置 ICP-OES
Shimadzu ICPE-9820
4,0008,000 
6,00010,000
原子吸光分光光度計 AAS
Shimadzu AA-7000
3,2007,200 
4,4008,400
イオン化エネルギー測定装置 イオン化エネルギー
Bunkoukeiki BIP-KV100J
3,6007,600 
5,2009,200
熱分解ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計 熱分解GC-TOF-MS
JEOL JMS-T200GCx-plus
3,6007,600 
5,2009,200
X線マイクロCTスキャン X-ray CT
Bruker SkyScan1172
6,00010,000 
10,00014,000
備考 
別紙様式第1(第4条関係)

別紙様式第2(第6条関係)

別紙様式第3(第8条関係)