| | | | (時間単価) |
| 装置名 | 機器使用料金
(依頼測定) | 機器使用料金
(共同研究測定) | 備考 |
電界放出形電子線マイクロアナライザ FE-EPMA
JEOL JXA-iHP200F | 円(税抜)
6,000 | 円(税抜)
10,000 |
|
|
| 10,000 | 14,000 |
電子線マイクロアナライザ EPMA
Shimadzu EPMA-1600 | 3,400 | 7,400 | |
| 4,800 | 8,800 |
グロー放電発光分析装置 GD-OES
Horiba GD-Profiler2 | 3,800 | 7,800 | |
| 5,600 | 9,600 |
全自動光電子分光装置 XPS/UPS
Thermo Fisher Scientific Nexsa | 6,000 | 10,000 | XPSのみ、その他のオプション利用は別途相談 |
| 10,000 | 14,000 |
X線光電子分光装置 XPS
JEOL JPS-9010TR | 3,400 | 7,400 | |
| 4,800 | 8,800 |
オージェ電子分光装置 AES
JEOL JAMP-9500F | 5,000 | 9,000 | |
| 8,000 | 12,000 |
フーリエ変換赤外分光装置 FT-IR
JASCO FT/IR-4100 | 2,800 | 6,800 | |
| 3,600 | 7,600 |
レーザーラマン分光装置 LRS
JASCO NRS-7200 | 3,400 | 7,400 | |
| 4,800 | 8,800 |
電子スピン共鳴分光装置 ESR
JEOL JES-RE2X | 2,400 | 6,400 | |
| 2,800 | 6,800 |
粉末X線回折装置 Powder XRD
Rigaku SmartLab 3kW | 3,400 | 7,400 | |
| 4,800 | 8,800 |
In-plane型X線回折装置 In-plane XRD
Rigaku SmartLab 9kW | 3,600 | 7,600 | |
| 5,200 | 9,200 |
低温X線回折装置 Low temperature XRD
Rigaku SmartLab 9kW | 3,600 | 7,600 | 低温測定時は別途液体窒素代 |
| 5,200 | 9,200 |
蛍光X線分析装置 XRF
Rigaku ZSX Primus II | 3,400 | 7,400 | |
| 4,800 | 8,800 |
透過電子顕微鏡 TEM
Hitachi HT7700 | 6,000 | 10,000 | |
| 10,000 | 14,000 |
電界放出形透過電子顕微鏡 FE-TEM
JEOL JEM-2100F | 6,000 | 10,000 | |
| 10,000 | 14,000 |
冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 Cold FE-SEM
Hitachi SU8230 | 6,000 | 10,000 | |
| 10,000 | 14,000 |
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 Schottky FE-SEM
JEOL JSM-IT800 (SHL) | 6,000 | 10,000 | |
| 10,000 | 14,000 |
走査電子顕微鏡 SEM
Hitachi FlexSEM1000 II | 3,600 | 7,600 | |
| 5,200 | 9,200 |
cryo走査電子顕微鏡 cryoSEM
JEOL JSM-IT200 | 3,600 | 7,600 | |
| 5,200 | 9,200 |
卓上走査電子顕微鏡 DesktopSEM
Hitachi TM3030Plus | 3,000 | 7,000 | cool stage利用時は別途相談 |
| 4,000 | 8,000 |
卓上走査電子顕微鏡 BenchtopSEM
JEOL JCM-6000Plus | 3,200 | 7,200 | |
| 4,400 | 8,400 |
複合ビーム加工観察装置 FIB/FE-SEM
JEOL JIB-4700F | 7,000 | 11,000 | |
| 12,000 | 16,000 |
集束イオンビーム加工装置 FIB
Hitach FB2200 | 7,000 | 11,000 | |
| 12,000 | 16,000 |
イオンミリング Ion Milling Machine
Hitachi IM4000Plus | 3,000 | 7,000 | |
| 4,000 | 8,000 |
ウルトラミクロトーム Ultramicrotome
Leica EM UC7 | 3,600 | 7,600 | |
| 5,200 | 9,200 |
SEM用イオンミリング装置 SEM Mill
Fischione Instruments Model1061 | 3,000 | 7,000 | |
| 4,000 | 8,000 |
ICP発光分光分析装置 ICP-OES
Shimadzu ICPE-9820 | 4,000 | 8,000 | |
| 6,000 | 10,000 |
原子吸光分光光度計 AAS
Shimadzu AA-7000 | 3,200 | 7,200 | |
| 4,400 | 8,400 |
イオン化エネルギー測定装置 イオン化エネルギー
Bunkoukeiki BIP-KV100J | 3,600 | 7,600 | |
| 5,200 | 9,200 |
熱分解ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計 熱分解GC-TOF-MS
JEOL JMS-T200GCx-plus | 3,600 | 7,600 | |
| 5,200 | 9,200 |
X線マイクロCTスキャン X-ray CT
Bruker SkyScan1172 | 6,000 | 10,000 | |
| 10,000 | 14,000 |